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K型热电偶

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预热陶瓷热电偶与预热陶瓷管区别及两种方式测试对比

来源:www.designsbykn.com作者:发表时间:2020-12-23

 初次使用

       以不超过每小时200°F的线性速率将温度从环境温度升高到1100°F。切勿在涂层的任何一个区域上长时间直接照射火焰。

       每英寸最大厚度在1100°F下保持两个小时。

       以每小时不超过200°F(线性)的速度升高温度至工作温度。

       按照上述时间表进行操作后,衬里就可以接收熔融金属了。初次使用时,将探头浸入大约1/3并保持一分钟。继续将探头浸入水中,直至覆盖2/3并保持一分钟。最后将探头浸入所需的深度。仅在初次使用时才需要进行烧结。

后续使用

       探头冷时,切勿将其浸入熔融金属中。在额外倒入之前,可以从具有高火焰的冷状态对探针进行预热,直到探针达到熔融金属的近似出钢温度为止。

高温陶瓷热电偶

预热陶瓷保护管(以下信息适用于陶瓷保护管的Mullite和Alumina版本)。

安装到正在运行的进程中

       将陶瓷保护管以每100°C每小时1英寸的速度插入运行过程中,以防止热冲击和可能的破裂。例如,如果您的熔炉在600°C的温度下运行,那么您应该花六个小时将陶瓷管插入熔炉中。

PMI-比较两种测试方法

为什么选择PMI?

       使用肯定材料识别(PMI),可以确定合金成分,从而确定材料的身份。如果缺少材料证书或/并且您需要确定所用材料的类型,则将PMI作为NDT方法是最佳解决方案。积极材料识别特别适用于高质量金属,例如不锈钢和高合金金属。

两种类型的PMI

       由于用于工业的材料规范越来越具体,因此对PMI测试的需求一直在稳定增长。可以使用XRF和OES类型的PMI,并且两种分析技术都有其优点和缺点。

       X射线荧光(XRF)仪器的工作原理是将要测量的样品暴露在X射线束中。样品的原子从X射线吸收能量,被暂时激发,然后发出二次X射线。每个化学元素都以独特的能量发射X射线。通过测量发射的X射线的强度和特征能量,分析仪可以提供有关被测材料成分的定性和定量信息。

       XRF分析仪易于使用,重量轻,体积小,并且不需要太多准备就可以测量样品。但是,XRF单元可以测量的元素数量受到限制。而且,产生X射线的传统方法已经使用了放射性同位素,使用放射性同位素需要大量文献记录。在最新一代的便携式XRF分析仪中,同位素已被小型X射线管所取代,所需的文件更少。

       在光发射光谱(OES)技术中,原子也被激发。然而,激发能来自样品和电极之间形成的火花。在这种情况下,火花的能量使样品中的电子发光,然后将其转换为光谱图。通过测量该光谱中峰的强度,OES分析仪可以对材料成分进行定性和定量分析。尽管OES被认为是一种非破坏性的测试方法,但火花的确在样品表面留下了轻微的灼伤。

       OES仪器尺寸较大,并使用氩气提高准确性。样品制备起着重要作用;但是,仪器分析金属中常用元素的能力几乎没有限制。选择OES技术而非XRF的主要原因之一是OES在测量碳和铝等金属中的轻元素方面的优越性。OES是在实验室外测量碳的唯一可靠方法,通常需要使用不锈钢,镁和硅等材料进行测量。该技术还用于铝合金中铝的测量。可以在没有氩气气氛的情况下完成OES测量,但会降低精度,精密度或可重复性。

安装到冷过程中(启动)

       如果您的陶瓷管已经在冷过程中安装,则热量应以每小时不超过100°C的速度增加,以最大程度地减少对管的热冲击。